Регистрация | Вход

Объявление

Свернуть
Пока нет объявлений.

Журнал «ЭК»:Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень.

Свернуть
X
 
  • Фильтр
  • Время
  • Показать
Очистить всё
новые сообщения

    Журнал «ЭК»:Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень.



    Конференция пользователей систем периферийного сканирования и внутрисхемного теста: новый уровень.

    Компания Остек-Электро совместно с российским представительством JTAG Technologies провели объединенную всероссийскую конференцию пользователей систем периферийного сканирования JTAG Technologies и систем внутрисхемного тестирования SPEA. Событие состоялось 20 и 21 сентября 2021 года в пригороде Санкт-Петербурга Петергофе. Это продолжение уже ставшей традиционной пользовательской конференции JTAG Technologies, в этот раз было принято решение о объединении двух методологий электроконтроля, которые по сути дополняют друг друга. Такой формат действительно оказался очень продуктивным, ведь периферийное сканирование и внутрисхемный тест составляют основы структурного производственного тестирования и в комбинации почти всегда позволяют получить максимальное тестовое покрытие.

    Конференция собрала порядка 70 участников из разных городов: от Минска до Томска. Буквально каждый доклад вызывал интерес и оживленные дискуссии. Следует отметить, что большую часть докладов составляли презентации инженеров предприятий, которых было 14: это реальные случаи из практики тестирования электроники. Ещё 6 докладов провели представители JTAG Technologies и Остек-Электро.

    На конференции поднимались вопросы стратегии тестопригодного проектирования на предприятиях, интеграции различных тестовых методик в единых стендах, поддержки стандартов IEEE 1149.1 и IEEE 1149.6 импортной и отечественной компонентной базой, рассказывалось о опыте входного контроля сложных ПЛИС с использованием станций периферийного сканирования. Отдельно следует упомянуть про возможности интегрированного комплекса Эльбрус-Тест, который предназначен для тестирования плат на базе процессоров Эльбрус, и про опыт интеграции периферийного сканирования в программное обеспечение Robster от компании Третий Пин.

    С более подробным списком тем докладов и запросить презентации можно в телеграм-канале JTAG Technologies: https://t.me/jtagtechRU


    Прочитать в оригинале…
    Последний раз редактировалось Darya; 29-10-2021, 14:44.
    Взято автоматически из интернета.

Похожие темы

Тема Автор Раздел Последнее сообщение
2002—2022 «ЭтЛайт»
Наши контакты: +7 (812) 309-50-30, client@efind.ru
Реклама · Участие в поиске · Инструменты · Блог · Аналитика · English version

  ExpoElectronica RADEL
Обработка...
X