Регистрация | Вход

Объявление

Свернуть
Пока нет объявлений.

Журнал «ЭК»:Вебинар: «Применение периферийного сканирования на серийном производстве»

Свернуть
X
 
  • Фильтр
  • Время
  • Показать
Очистить всё
новые сообщения

    Журнал «ЭК»:Вебинар: «Применение периферийного сканирования на серийном производстве»



    Компания JTAG Technologies проводит вебинар: «Применение периферийного сканирования на серийном производстве». Состоится онлайн-мероприятие 26 ноября в 15:00 по московскому времени.

    Когда JTAG-тестирование выходит на «цеховую» стадию, важно решить следующие вопросы:
    1. Как запускать все ранее сгенерированные тесты на платформе JTAG ProVision, какие есть нюансы.
    2. Как оформить аппаратную интеграцию в тестеры ICT или Flying Probe. Какие есть подводные камни? Почему это иногда необходимо, а когда – не нужно?
    3. Отдельно — программная интеграция тестов в LabVIEW, TestStand, C++, и так далее. Что, если не хочется расставаться любыми средами для тестирования?
    4. Как быстро программировать флэшки на станциях периферийного сканирования? Что вообще можно программировать?

    Все эти и другие вопросы мы обсудим на вебинаре и дадим вам ключ к построению правильной тестовой стратегии. Темы, которые будут затронуты, будут интересны как тем, кто уже использует периферийное сканирование, так и тем, кто только собирается строить такую тестовую стратегию.

    Ссылка для регистрации на вебинар:

    https://attendee.gotowebinar.com/register/6258066553350664459




    Прочитать в оригинале…
    Последний раз редактировалось Darya; 19-11-2020, 11:17.
    Взято автоматически из интернета.
2002—2020 «ЭтЛайт»
Наши контакты: +7 (812) 309-50-30, client@efind.ru
Реклама · Участие в поиске · Инструменты · Блог · Аналитика · English version

  RADEL ExpoElectronica
Обработка...
X